Induktivitätsdekade mit Schiebeschalter hohe Genauigkeit, für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung
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Labor-Dekade mit Schiebeschalter für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung. Schnell und anwender - die übersichtliche Anordnung der Schiebeschalter ermöglicht das Einstellen aller Werte zwischen 10 µH bis 111, 1 mH - also 4 Dekaden - und dies hochgenau in 10 µH Schritten. Die hohe Messgenauigkeit beträgt hierbei 5 % bei 1 kHz Testfrequenz Das platzsparende Kunstoffgehäuse (140 mm x 190 mm x 80 mm) rt zudem eine einwandfreie Abschirmung. Anschluss über 4 mm Sicherheitsbuchsen
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Labor-Dekade mit Schiebeschalter für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung. Schnell und anwender - die übersichtliche Anordnung der Schiebeschalter ermöglicht das Einstellen aller Werte zwischen 10 µH bis 111, 1 mH - also 4 Dekaden - und dies hochgenau in 10 µH Schritten. Die hohe Messgenauigkeit beträgt hierbei 5 % bei 1 kHz Testfrequenz Das platzsparende Kunstoffgehäuse (140 mm x 190 mm x 80 mm) rt zudem eine einwandfreie Abschirmung. Anschluss über 4 mm Sicherheitsbuchsen
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Labor-Dekade mit Schiebeschalter für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung. Schnell und anwender - die übersichtliche Anordnung der Schiebeschalter ermöglicht das Einstellen aller Werte zwischen 10 µH bis 111, 1 mH - also 4 Dekaden - und dies hochgenau in 10 µH Schritten. Die hohe Messgenauigkeit beträgt hierbei 5 % bei 1 kHz Testfrequenz Das platzsparende Kunstoffgehäuse (140 mm x 190 mm x 80 mm) rt zudem eine einwandfreie Abschirmung. Anschluss über 4 mm Sicherheitsbuchsen