Sauter TE 1250 0.1F Måleapparat til tykkelse 0 µm
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Flexible Anwendung – Misst nicht-magnetische Schichten auf Eisen und Stahl (Typ F) mit externer Sensorplatzierung Hohe Genauigkeit – Messbereich bis 1250 µm mit Ablesbarkeit von bis zu 0,1 µm, Genauigkeit durch Offset-Accur auf bis zu 1 % verbesserbar Komfortable Bedienung – Ergonomisches Gehäuse mit externem Sensor für schwer zugängliche Messpunkte Umfangreiche Ausstattung – Inklusive Nullplatte, Justierfolien und stabilem Tragekoffer Zuverlässige Datenübertragung – RS-232-Schnittstelle serienmäßig, wählbare Einheiten (µm, inch/mil)
Beschreibung
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Flexible Anwendung – Misst nicht-magnetische Schichten auf Eisen und Stahl (Typ F) mit externer Sensorplatzierung Hohe Genauigkeit – Messbereich bis 1250 µm mit Ablesbarkeit von bis zu 0,1 µm, Genauigkeit durch Offset-Accur auf bis zu 1 % verbesserbar Komfortable Bedienung – Ergonomisches Gehäuse mit externem Sensor für schwer zugängliche Messpunkte Umfangreiche Ausstattung – Inklusive Nullplatte, Justierfolien und stabilem Tragekoffer Zuverlässige Datenübertragung – RS-232-Schnittstelle serienmäßig, wählbare Einheiten (µm, inch/mil)
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